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高い位置再現性と自己保持機能付きの位置決め装置をご紹介します。


-	2010年9月1日（水）～　3日（金）に幕張メッセにて開催される、「分析展2010（第48回） / 科学機器展2010」に出展いたします。当社では、バイオセンシング装置『Smart SPR』『Handy-SPR』や『電気化学センサチップ作製サービス』、また『化学分析サービス』などの各種分析サービスを展示いたしますので、是非、NTT-ATのブースに足をお運びいただき、商品をご覧ください。 →出展情報はこちら



-	ウエハ表面上の金属汚染評価（汚染回収方法と評価事例）を新規掲載しました。ウエハ表面に存在する汚染はデバイス特性を劣化させ、デバイスの製造歩留まりに大きな影響を与えます。誘導結合プラズマ質量分析(ICP-MS)によるシリコンウエハ表面上の金属汚染評価事例についてご紹介します。（2010.09.01)
-	クローズドループ制御を行うことにより、高い位置再現性の実現と自己保持機能つきの高分解能フィードバックステージシステムのご紹介です。位置決め装置はシグマテック社の代理店である、ＮＴＴアドバンステクノロジ株式会社にお任せください。（2010.08.20)
-	ナノインプリント用モールドNIMシリーズ＜カタログ製品＞の割引キャンペーンを実施中！ナノインプリントの初期検討や、微細パタン付試料をお求めの際などに是非ご利用ください。（2010.07.28)
-	基盤系光ネットワークの高信頼性冗長構成ソリューション「インテリジェント光スイッチユニット NSWシリーズ」情報を更新しました。（2010.06.18)
-	「薄膜形成、加工サービス」情報を更新しました。（2010.06.18) 薄膜形成サービスおよびフォトリソグラフィを使ったパターニングサービスのご紹介です。
-	ブラウン管タイプの光コネクタ端面検査装置（FVDW,FVIWW,FVW等）販売中止のお知らせ。（2010.05.20)
-	高精度小型電力計　ワットーアワーメータ　実測例情報を更新しました。（2010.05.20) ワットアワーメータでオフィスの電力使用量を把握し、電力削減策の検討にご利用ください。
-	撥水シートによる雪対策情報を更新しました。（2010.05.18) アンテナ設置から約26ヶ月後の降雪時におけるBSアンテナの電波受信状況を追加しました。
-	NTTアドバンステクノロジ株式会社は「KTN光スキャナー」で”2010　CLEO/Laser Focus World Innovation Award”大賞を受賞しました。 →当社「KTN光スキャナー」の情報はこちら。（2010.04.26)
-	圧力制御機構付き加圧/減圧対応卓上型クリーンオーブン情報を新規掲載しました。（2010.04.02)
-	窒化物半導体エピタキシャルウエハ情報を更新しました。（2010.03.24)
-	ダウンロードサービス小冊子「光コネクタ端面汚れが及ぼす影響とその対策　Ver.1.1」を掲載いたしました。（2010.03.05)


-	「ワットアワーメータ」「端面検査装置」が購入できます!
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