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NTTアドバンステクノロジの材料分析センタは、お客様の課題に対して一緒に検討しながら問題解決を
ご提案する「立会い分析サービス*1」をご利用いただけます。
新材料の開発から工程の信頼性評価まで、幅広い材料・分析サービスに対応いたします。
(*1 分析の手法や内容によってはご利用いただけない場合もございますので、 まずはご相談ください。)
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「蛍光X線分析法(XRF: X-ray Fluorescence Analysis)」情報を更新しました。
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50 nmピッチで校正された、長さ校正用標準試料 「50nm面内スケール」情報を新規掲載しました。
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「薄膜材料(BPSG膜)の組成分析」情報を更新しました。
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「ICP-AES:ICP発光分析(薄膜材料組成の組成分析)」情報を更新しました。
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「全反射蛍光X線分析(TXRF)」情報を更新しました。
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「全反射蛍光X線分析 全面高速マッピング (Sweeping-TXRF)」情報を更新しました。
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